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    • STS8200B測(cè)試儀

      STS8200B測(cè)試儀

      晶圓測(cè)試

      0.00

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    • 3380P測(cè)試儀

      3380P測(cè)試儀

      晶圓測(cè)試

      0.00

      0.00

    • TR-6850

      TR-6850

      晶圓測(cè)試

      0.00

      0.00

    • TR-6836

      TR-6836

      晶圓測(cè)試

      0.00

      0.00

    • P12XL

      P12XL

      晶圓測(cè)試

      0.00

      0.00

    • UF200SA

      UF200SA

      晶圓測(cè)試

      0.00

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    設(shè)備介紹
    3380P測(cè)試儀
    l最大數(shù)據(jù)傳輸率:100MHz
    l最大I/OPIN512通道
    l同測(cè)數(shù):可最大512DUT并行測(cè)試
    l測(cè)量向量深度:32M/64M/128M
    STS8200B測(cè)試儀
    l最大數(shù)據(jù)傳輸率5MHz
    l數(shù)模混合測(cè)試儀,模擬電壓最大可支持-1000V~+1000V
    l可最大16/32DUT并行測(cè)試
    l可擴(kuò)展性高,覆蓋面廣,可提供模擬,線性,電源管理類(lèi),音頻,模擬開(kāi)關(guān)
    TR6850測(cè)試儀
    l最大數(shù)據(jù)傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
    l數(shù)?;旌蠝y(cè)試儀,模擬電壓最大可支持-45V~+100V
    l最大I/OPIN256通道
    l每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置輸入電平(VIH/VIL
    l每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較電平(VOH/VOL)  
    l 每個(gè)通道均可單獨(dú)設(shè)置時(shí)鐘調(diào)制模式。
    l每個(gè)通道均可單獨(dú)設(shè)置TG
    l每個(gè)通道均可進(jìn)行時(shí)間參數(shù)測(cè)量
    l可最大8DUT同時(shí)并行測(cè)試
    l測(cè)量向量深度最大8M
    TR6836測(cè)試儀
    l最大數(shù)據(jù)傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
    l最大I/OPIN384通道
    l每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置輸入電平(VIH/VIL
    l每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較電平(VOH/VOL)  
    l 每個(gè)通道均可單獨(dú)設(shè)置時(shí)鐘調(diào)制模式。
    l每個(gè)通道均可單獨(dú)設(shè)置TG
    l每個(gè)通道均可進(jìn)行時(shí)間參數(shù)測(cè)量
    l可最大8DUT同時(shí)并行測(cè)試
    l測(cè)量向量深度最大8M
    P12XL針臺(tái)
    lTEL產(chǎn)
    l測(cè)試8”~12”晶圓
    l精度高(300mm內(nèi)精確度為±2um)

    l自動(dòng)化程度高,配備先進(jìn)的CCD圖形掃描技術(shù),

     機(jī)器自動(dòng)上下片

    l穩(wěn)定性好

    UF200SA探針臺(tái)
    l日本TSK生產(chǎn)
    l測(cè)試5”~8”晶圓
    l精度高(200mm內(nèi)精確度為±2um

    l自動(dòng)化程度高,配備先進(jìn)的CCD圖形掃描技術(shù),機(jī)器自動(dòng)上下片

    l穩(wěn)定性好